本產品(光學元件相干反射計)利用TD-OCT(時域光學相干斷層掃描)技術執(zhí)行光反射分布測量,并基于邁克爾遜干涉儀原理。來自低相干光源的光輸出由一個耦合器分開,并引入DUT(測量對象)和可移動鏡。當耦合器和DUT之間的距離以及耦合器和可移動鏡之間的距離匹配時,每個反射光返回到耦合器,并發(fā)生干擾。干涉光的強度與DUT的光回波損耗成比例,因此可以知道此時DUT的光回波損耗。此外,還可以通過可移動鏡位置精確地找出光學反射位置。通過使用可移動鏡持續(xù)測量干涉光,可以測量DUT的光回波損耗分布。
此OCCR 設備分為Single和Premium版本,OCCR Single 測試距離為0-20mm,回損測試范圍為-10到-85dB,OCCR Multi測試距離為0-100mm,回損測試范圍為-10到-100dB。
功能 |
世界最高等級超低回波損耗檢測 | -10至-100dB |
精確測量微裂紋位置 | - 分辨率0.001mm |
高速測量 | -3秒 |
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